ケイ酸ハフニウム(IV)(Hafnium(IV) silicate、HfSiO<sub>4</sub>)は、ハフニウムのケイ酸塩である。ケイ酸ハフニウムとケイ酸ジルコニウムの薄膜は化学気相成長法(主にMOCVD)によって作られ、半導体材料である二酸化ケイ素に代わる高誘電率誘電体(high-k dielectric)として使うことができる。
ケイ酸ハフニウム(IV)(Hafnium(IV) silicate、HfSiO<sub>4</sub>)は、ハフニウムのケイ酸塩である。ケイ酸ハフニウムとケイ酸ジルコニウムの薄膜は化学気相成長法(主にMOCVD)によって作られ、半導体材料である二酸化ケイ素に代わる高誘電率誘電体(high-k dielectric)として使うことができる。